High-resolution Field Emission Scanning Electron Microscopy with FIB; and Broad Argon Beam milling system
Tekniska Högskolan i Jönköping AB
This procurement is divided into 2 separate tender areas A and B; the supply of a high-resolution Field Emission Scanning Electron Microscope (FESEM, also commonly abbreviated as FEG-SEM or FE-SEM) with attached Focus Ion Beam capability (FIB) as specified in the attached documentation, and the supply of a Broad Argon Ion Beam milling system with the capability of conductive coating as specified in the attached documentation.
Sista ansökningsdagTidsfristen för mottagande av anbud var 2015-06-17. Upphandlingen offentliggjordes den 2015-05-07.
Vem? Vad?- • Detektions- och analysutrustning › Analysapparatur
- • Instrument för kontroll av fysikaliska egenskaper › Mätinstrument
- • Laboratorieutrustning, optisk utrustning och precisionsutrustning (exkl. glas) › Diverse mät- och provinstrument
- • Mikroskop › Diverse delar till mikroskop
- • Mikroskop › Elektronmikroskop
Upphandlingshistorik
| Datum | Dokument |
|---|---|
| 2015-05-07 | Meddelande om upphandling |
Meddelande om upphandling (2015-05-07)
Objekt
Upphandlingens omfattning
Titel: Laboratorieutrustning, optisk utrustning och precisionsutrustning (exkl. glas)
Meddelandeinformation
Originalspråk: engelska 🗣️
Dokumenttyp: Meddelande om upphandling
Kontraktets art: Tjänster
Reglering: Europeiska unionen
Gemensam upphandlingsterminologi (CPV)
Kod: Laboratorieutrustning, optisk utrustning och precisionsutrustning (exkl. glas) 📦
Förfarande
Förfarandetyp: Öppet förfarande
Anbudstyp: Anbud på alla delar
Kriterier för tilldelning
Ospecificerat
Upphandlande myndighet
Identitet
Land: Sverige 🇸🇪
Upphandlande myndighet (typ): Offentligrättsligt organ
Upphandlande myndighet (namn): Tekniska Högskolan i Jönköping AB
Postadress: Box 1036
Postnummer: 551 11
Postort: Jönköping
Kontakt
E-post: emma.laakkonen@colligio.se 📧
Referens
Datum
Avsändningsdatum: 2015-05-07 📅
Sista anbudsdag: 2015-06-17 📅
Publiceringsdatum: 2015-05-12 📅
Identifierare
Meddelandenummer: 2015/S 091-163893
EUT-S-nummer: 91
Ytterligare information
Objekt
Upphandlingens omfattning
Kort beskrivning:
Referensnummer: JTH 2015/1593-25
Plats för genomförandet
Huvudort eller plats för utförandet: Jönköping.
Förfarande
Anbudens giltighetstid: 2015-09-17 📅
Datum för öppnande av anbud: 2015-06-18 📅
Upphandlande myndighet
Kontakt
Kontaktpunkt: Emma Laakonen Gäst
Namn: TendSign
Webbadress för ytterligare information: https://tendsign.com/doc.aspx?ID=77848 🌏
URL för dokument: https://tendsign.com/doc.aspx?ID=77848&Goto=Docs 🌏
URL för deltagande: https://tendsign.com/doc.aspx?ID=77848&Goto=Tender 🌏
Referens
Identifierare
Referensnummer tilldelat av upphandlande myndighet: JTH 2015/1593-25
Ytterligare information
Visma TendSign notice: http://www.opic.com/notice.asp?req=dikgktlt
Visma TendSign notice: http://www.opic.com/notice.asp?req=dimstmrp
Källa: OJS 2015/S 091-163893 (2015-05-07)
Objekt
Upphandlingens omfattning
Titel: Laboratorieutrustning, optisk utrustning och precisionsutrustning (exkl. glas)
Meddelandeinformation
Originalspråk: engelska 🗣️
Dokumenttyp: Meddelande om upphandling
Kontraktets art: Tjänster
Reglering: Europeiska unionen
Gemensam upphandlingsterminologi (CPV)
Kod: Laboratorieutrustning, optisk utrustning och precisionsutrustning (exkl. glas) 📦
Förfarande
Förfarandetyp: Öppet förfarande
Anbudstyp: Anbud på alla delar
Kriterier för tilldelning
Ospecificerat
Upphandlande myndighet
Identitet
Land: Sverige 🇸🇪
Upphandlande myndighet (typ): Offentligrättsligt organ
Upphandlande myndighet (namn): Tekniska Högskolan i Jönköping AB
Postadress: Box 1036
Postnummer: 551 11
Postort: Jönköping
Kontakt
E-post: emma.laakkonen@colligio.se 📧
Referens
Datum
Avsändningsdatum: 2015-05-07 📅
Sista anbudsdag: 2015-06-17 📅
Publiceringsdatum: 2015-05-12 📅
Identifierare
Meddelandenummer: 2015/S 091-163893
EUT-S-nummer: 91
Ytterligare information
Visma TendSign notice: http://www.opic.com/notice.asp?req=dikgktlt
Visma TendSign notice: http://www.opic.com/notice.asp?req=dimstmrp
Objekt
Upphandlingens omfattning
Kort beskrivning:
This procurement is divided into 2 separate tender areas A and B; the supply of a high-resolution Field Emission Scanning Electron Microscope (FESEM, also commonly abbreviated as FEG-SEM or FE-SEM) with attached Focus Ion Beam capability (FIB) as specified in the attached documentation, and the supply of a Broad Argon Ion Beam milling system with the capability of conductive coating as specified in the attached documentation.
Visa mer
Plats för genomförandet
Huvudort eller plats för utförandet: Jönköping.
Förfarande
Anbudens giltighetstid: 2015-09-17 📅
Datum för öppnande av anbud: 2015-06-18 📅
Upphandlande myndighet
Kontakt
Kontaktpunkt: Emma Laakonen Gäst
Namn: TendSign
Webbadress för ytterligare information: https://tendsign.com/doc.aspx?ID=77848 🌏
URL för dokument: https://tendsign.com/doc.aspx?ID=77848&Goto=Docs 🌏
URL för deltagande: https://tendsign.com/doc.aspx?ID=77848&Goto=Tender 🌏
Referens
Identifierare
Referensnummer tilldelat av upphandlande myndighet: JTH 2015/1593-25
Ytterligare information
Visma TendSign notice: http://www.opic.com/notice.asp?req=dikgktlt
Visma TendSign notice: http://www.opic.com/notice.asp?req=dimstmrp
Källa: OJS 2015/S 091-163893 (2015-05-07)
Nya upphandlingar inom relaterade kategorier 🆕
- Laboratorieutrustning, optisk utrustning och precisionsutrustning (exkl. glas) (>20 nya upphandlingar)
- Apparater för kontroll och provning (7)
- Diverse mät- och provinstrument
- Geologiska och geofysiska instrument (2)
- Instrument för kontroll av fysikaliska egenskaper (9)
- Klockregister och liknande; parkeringsmätare
- Mätutrustning (4)
- Navigationsinstrument och meteorologiska instrument (2)
- Optiska instrument (3)
- Utrustning för industriell processtyrning och utrustning för fjärrkontroll (2)