Nanomanipulator system

Stockholms universitet

The tenderer is invited to submit a tender for a Nanomanipulator system.
The Nanomanipulator system shall be integrated into an existing Nova 200 dual-beam SEM/FIB at the Albanova NanoFab lab. The system is going to be used as a versatile tool for working with small samples, such as crystals, TEM samples, nanowires, and thin films, while viewing with the scanning electron microscope (SEM) and milling with the focused ion beam.

Sista ansökningsdag

Tidsfristen för mottagande av anbud var 2015-08-31. Upphandlingen offentliggjordes den 2015-07-21.

Vem?

• Stockholms universitet

Vad?

• Mikroskop › Diverse delar till mikroskop
• Mikroskop › Elektronmikroskop

Var?

• Stockholm › Stockholms län

Upphandlingshistorik

Datum	Dokument
2015-07-21	Meddelande om upphandling

Meddelande om upphandling (2015-07-21)
Objekt
Upphandlingens omfattning
Titel: Mikroskop
Meddelandeinformation
Originalspråk: engelska 🗣️
Dokumenttyp: Meddelande om upphandling
Kontraktets art: Varor
Reglering: Europeiska unionen
Gemensam upphandlingsterminologi (CPV)
Kod: Mikroskop 📦

Förfarande
Förfarandetyp: Öppet förfarande
Anbudstyp: Anbud på alla delar
Kriterier för tilldelning
Ospecificerat

Upphandlande myndighet
Identitet
Land: Sverige 🇸🇪
Upphandlande myndighet (typ): Ministerium eller annan central
Upphandlande myndighet (namn): Stockholms universitet
Postnummer: 10691
Postort: Stockholm
Kontakt
E-post: eilert.stensson@fysik.su.se 📧

Referens
Datum
Avsändningsdatum: 2015-07-21 📅
Sista anbudsdag: 2015-08-31 📅
Publiceringsdatum: 2015-07-25 📅
Identifierare
Meddelandenummer: 2015/S 142-260704
EUT-S-nummer: 142
Ytterligare information
Visma TendSign notice: http://www.opic.com/notice.asp?req=dilgvcbd

Objekt
Upphandlingens omfattning
Kort beskrivning:

The tenderer is invited to submit a tender for a Nanomanipulator system.

The Nanomanipulator system shall be integrated into an existing Nova 200 dual-beam SEM/FIB at the Albanova NanoFab lab. The system is going to be used as a versatile tool for working with small samples, such as crystals, TEM samples, nanowires, and thin films, while viewing with the scanning electron microscope (SEM) and milling with the focused ion beam.

Referensnummer: 402-2.2.2-0138-15
Plats för genomförandet
Huvudort eller plats för utförandet: Stockholm.

Förfarande
Anbudens giltighetstid: 2015-12-29 📅
Datum för öppnande av anbud: 2015-09-01 📅

Upphandlande myndighet
Kontakt
Kontaktpunkt: Eilert Stensson
Namn: TendSign
Webbadress för ytterligare information: https://tendsign.com/doc.aspx?ID=82326 🌏
URL för dokument: https://tendsign.com/doc.aspx?ID=82326&Goto=Docs 🌏
Namn: Stockholms universitet

Referens
Identifierare
Referensnummer tilldelat av upphandlande myndighet: 402-2.2.2-0138-15
Källa: OJS 2015/S 142-260704 (2015-07-21)

Nya upphandlingar inom relaterade kategorier 🆕

Laboratorieutrustning, optisk utrustning och precisionsutrustning (exkl. glas) (>20 nya upphandlingar)

Apparater för kontroll och provning (4)

Mikroskop (2)